|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Анализ цифровых моделей рельефа полупроводниковых пластин и структур методами геоморфометриистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Авторы: Дедкова А.А., Флоринский И.В.
- Журнал: Известия высших учебных заведений. Геодезия и аэрофотосъемка
- Том: 67
- Номер: 2
- Год издания: 2023
- Издательство: Изд-во Моск. ун-та геодезии и картографии
- Местоположение издательства: М.
- Первая страница: 32
- Последняя страница: 40
- DOI: 10.30533/GiA-2023-014
- Добавил в систему: Флоринский Игорь Васильевич