Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Когерентная рентгеновская отражательная микроскопия при освещении объекта под скользящими углами
тезисы доклада
Авторы:
Артюков И.А.
,
Бусаров А.С.
,
Виноградов А.В.
,
Попов Н.Л.
Сборник:
VII МЕЖДУНАРОДНАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ ПО ФОТОНИКЕ И ИНФОРМАЦИОННОЙ ОПТИКЕ: Сборник научных трудов
Тезисы
Год издания:
2018
Издательство:
НИЯУ МИФИ
Местоположение издательства:
Москва
Первая страница:
234
Последняя страница:
235
Аннотация:
An optical scheme of x-ray reflection microscope working at sliding angles of object illumination is presented. Evaluation of the spatial resolution and field of view is performed with numerical modeling.
Добавил в систему:
Артюков Игорь Анатольевич