Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Transverse beam profile imaging of few-micrometer beam sizes based on a scintillator screen
тезисы доклада
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 19 июня 2024 г.
Авторы:
Kube G.
,
Bajt S.
,
Potylitsyn A.P.
, Sukhikh L.G.,
Vukolov A.V.
,
Artyukov I.A.
,
Lauth W.
Сборник:
Proceedings of the 4th International Beam Instrumentation Conference, IBIC 2015
Тезисы
Год издания:
2015
Издательство:
University of Melbourne
Местоположение издательства:
Australia
Первая страница:
330
Последняя страница:
334
Добавил в систему:
Артюков Игорь Анатольевич