|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
High Resolution Magneto-optical Microscopy of Bi:YIG-thin Films with Both Domains and Topography Characterizationстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 17 апреля 2024 г.
- Авторы: Vysokikh Y.E., Krasnoborodko S.Y., Bulatov M.F., Churikov D.V., Mikhailova T.V., Shaposhnikov A.N.
- Сборник: Progress in Electromagnetics Research Symposium
- Серия: 2019 PhotonIcs and Electromagnetics Research Symposium
- Год издания: 2019
- Место издания: Spring
- Первая страница: 1607
- Последняя страница: 1611
- Добавил в систему: Булатов Марат Фатыхович