|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Surface morphology characterization using TXRF and SEMстатья
- Авторы: Alov N.V., Oskolok K.V.
- Журнал: Microscopy and analysis (UK)
- Том: 93
- Год издания: 2003
- Первая страница: 7
- Последняя страница: 9
- Добавил в систему: Осколок Кирилл Владимирович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | mag_150_2003_Jan_Alov_1.pdf | mag_150_2003_Jan_Alov_1.pdf | 845,0 КБ | 15 августа 2014 [OskolokKV] |