|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
TXRF characterization of inhomogeneous solids: Influence of surface morphologyстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 4 сентября 2014 г.
- Авторы: Alov N.V., Oskolok K.V., Wittershagen A., Kolbesen B.O.
- Сборник: PV 2003-03 <ISBN 1-56677-348-2>ALTECH 2003 Analytical and Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials, Devices, and Processes
- Год издания: 2003
- Место издания: Published PVs from the ECS Meeting, Paris, France (Spring 2003)
- Первая страница: 129
- Последняя страница: 135
- Добавил в систему: Осколок Кирилл Владимирович