|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Metallographic DPSSL-assisted lens-less microscopy of Si-Al systems using a multiangle planar analyzer based on a polarizing microscope rotating table and a digital image correlator/2D FFT spectrometerстатья
- Авторы: Biryukov Vladimir, Prince Anton, Maklakova Irina, Gradov Oleg
- Журнал: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
- Том: 13279
- Год издания: 2024
- Издательство: SPIE, the International Society for Optical Engineering
- Местоположение издательства: Bellingham, WA, United States
- Первая страница: 1327927-1
- Последняя страница: 1327927-7
- DOI: 10.1117/12.3041314
- Добавил в систему: Gradov Oleg V.
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|