Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
О возможности профилирования дефектов в широкозонных полупроводниках и диэлектриках с помощью катодолюминесценции
тезисы доклада
Авторы:
Иешкин А.Е.
,
Татаринцев А.А.
,
Зыкова Е.Ю.
,
Орликовская Н.Г.
Сборник:
Физические и физико-химические основы ионной имплантации: Тезисы докладов IX Всероссийской конференции и школы молодых ученых и специалистов (Нижний Новгород, 22–25 октября 2024 г.)
Тезисы
Год издания:
2024
Место издания:
Н. Новгород
Первая страница:
51
Последняя страница:
51
Добавил в систему:
Иешкин Алексей Евгеньевич