Аннотация:Метод дискретных источников модифицирован для анализа рассеивающих свойств частиц,
расположенных на слоистой подложке. В вычислительном эксперименте установлено наличие резонансов сечения рассеяния в области углов полного внутреннего отражения. Показано, что амплитудой резонанса можно управлять за счет наличия на пленке дополнительного
тонкого прозрачного слоя