Оптическая диагностика аппроксимантов 1D и 2D апериодических структур

Короленко, П.В.; Логачев, П.А.; Рыжиков, С.Б.; Рыжикова, Ю.В.

Авторы: Короленко П.В., Логачев П.А., Рыжиков С.Б., Рыжикова Ю.В.
Журнал: Физические основы приборостроения
Том: 3
Номер: 3
Год издания: 2014
Первая страница: 66
Последняя страница: 71
Аннотация: Дано обоснование скейлинговым методам оптической диагностики аппроксимантов одномерных и двумерных структур квазикристаллического типа, представляющих собой апериодические многослойные системы и дифракционные решетки. Оно опирается на наличие количественной связи между морфологическими особенностями структур аппроксимантов и скейлингом их оптических характеристик. Обнаруженная устойчивость скейлинговых параметров зондирующего излучения к изменению уровня генерации элементарных ячеек аппроксимантов и размеров исследуемых структур указывает на перспективность скейлинговых подходов к совершенствованию диагностики.
Добавил в систему: Рыжикова Юлия Владимировна

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИСТИНА ЦЭМИ РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

ИСТИНА ЦЭМИ РАН

Оптическая диагностика аппроксимантов 1D и 2D апериодических структурстатья

Прикрепленные файлы