|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Анализ оксидных наноструктур вольфрама методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопиистатья
- Авторы: Алов Н.В., Лазов М.А., Ищенко А.А.
- Журнал: Нанотехника
- Номер: 3
- Год издания: 2013
- Первая страница: 75
- Последняя страница: 78
- Добавил в систему: Алов Николай Викторович