|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Criterion for strong localization on a semiconductor surface in the Thomas?Fermi approximationстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 9 ноября 2017 г.
- Авторы: Bondarenko V.B., Filimonov A.V.
- Журнал: Semiconductors
- Том: 51
- Номер: 10
- Год издания: 2017
- Издательство: Springer
- Местоположение издательства: New York
- Первая страница: 1321
- Последняя страница: 1325
- Добавил в систему: Филимонов Алексей Владимирович