|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Визуализация наночастиц в Si, последовательно имплантированном ионами 64Zn+ и 16O+, с помощью СПЭМ и карт ЭДСтезисы доклада
- Авторы: Привезенцев В.В., Куликаускас В.С., Шемухин О.В., Трифонов А.Ю.
- Сборник: Тезисы XXIII Росс. Конф. по электр. микроск. (РКЭМ)
- Тезисы
- Год издания: 2014
- Место издания: ИПТМ, Черноголовка
- Первая страница: 76
- Добавил в систему: Куликаускас Вацловас Станиславович