Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
тезисы доклада
Авторы:
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
Сборник:
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
Тезисы
Год издания:
2011
Место издания:
Черноголовка
Первая страница:
43
Добавил в систему:
Рау Эдуард Иванович