|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Отклонение от стехиометрии – основной фактор при получении материалов на основе CdS, CdSe для оптических сенсоровтезисы доклада
- Авторы: Один И.Н., Петрыкин В.В., Зломанов В.П.
- Сборник: Тезисы докладов XI конференции по химии высокочистых веществ
- Тезисы
- Год издания: 2000
- Место издания: Нижний Новгород
- Первая страница: 285
- Последняя страница: 286
- Добавил в систему: Один Иван Николаевич