|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Метод детектирования протяженных поверхностных состояний в кристаллических топологических изоляторах Pb1-xSnxSe с помощью лазерного терагерцового излучения. труды симпозиумастатья
- Авторы: Егорова С.Г., Черничкин В.И., Рябова Л.И., Скипетров Е.П., Яшина Л.В., Данилов С.Н., Ганичев С.Д., Хохлов Д.Р.
- Сборник: Материалы XIX Международного симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника»
- Том: 2
- Год издания: 2015
- Место издания: Нижний Новгород
- Первая страница: 697
- Последняя страница: 698
- Добавил в систему: Хохлов Дмитрий Ремович