Аннотация:Методологические основы системного анализа дефектов конструкционного стекла основаны на методах идентификации типа дефекта и определении причин его возникновения. Для идентификации типа дефекта определяется вектор признаков, состоящий из таких параметров, как светопропускание, дисторсия стекла в местах возникновения дефекта, которые вызывают геометрические искажения предмета. В работе предложена концепция построения аппаратуры автоматического поиска дефектов на основе структурированной подсветки. Алгоритм поиска дефектов основан на определении по структуре подсветки таких параметров, как контраст, величины светового потока и дисторсии. Данные признаки позволяют определить не только наличие или отсутствие дефекта, но и тип дефекта. Дефекты распознаются с помощью линейного классификатора.