|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
МЕТОДОЛОГИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ И КОМПЬЮТЕРНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ СИСТЕМНОГО АНАЛИЗА ДЕФЕКТОВ КОНСТРУКЦИОННОГО СТЕКЛАстатья
- Авторы: Мешалкин В.П., Ефимов И.В., Петров Д.Ю.
- Сборник: НЕОРГАНИЧЕСКАЯ ХИМИЯ - ФУНДАМЕНТАЛЬНАЯ ОСНОВА В МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ КЕРАМИЧЕСКИХ, СТЕКЛООБРАЗНЫХ И КОМПОЗИЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ
- Год издания: 2016
- Место издания: "ЛЕМА" Санкт-Петербург
- Первая страница: 137
- Последняя страница: 142
- Аннотация: Методологические основы системного анализа дефектов конструкционного стекла основаны на методах идентификации типа дефекта и определении причин его возникновения. Для идентификации типа дефекта определяется вектор признаков, состоящий из таких параметров, как светопропускание, дисторсия стекла в местах возникновения дефекта, которые вызывают геометрические искажения предмета. В работе предложена концепция построения аппаратуры автоматического поиска дефектов на основе структурированной подсветки. Алгоритм поиска дефектов основан на определении по структуре подсветки таких параметров, как контраст, величины светового потока и дисторсии. Данные признаки позволяют определить не только наличие или отсутствие дефекта, но и тип дефекта. Дефекты распознаются с помощью линейного классификатора.
- Добавил в систему: Галиева Динара Дарвиновна