Аннотация:Пособие посвящено дифракционным методам анализа материалов: дается систематическое изложение теории взаимодействия рентгеновского излучения с трехмерными кристаллическими и поликристаллическими объектами, описана техника постановки дифракционного эксперимента, дается подробное изложения методов анализа (качественного и количественного) дифрактограмм.
Также внимание уделяется дифракции рентгеновских лучей на нанообъетах, малоугловому рентгеновскому рассеянию и рефлектометрии. Отдельная глава пособия посвящена работе просвечивающего электронного микроскопа в режиме дифракции электронов.
Данное пособие издано на средства государственного контракта №16.647.12.2016 от 25 ноября 2010 г. в рамках работ по направлению 2 Федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008—2011 годы»