|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определенияхкнига
- Авторы: Ковальчук М.В., Тодуа П.А.
- Год издания: 2009
- Место издания: Техносфера, Мир материалов и технологий Москва
- Объём: 136 страниц
- ISBN: 978-5-94836-229-8
- Добавил в систему: Ковальчук Михаил Валентинович