Образование

Соавторы: Boella G., Cortiglioni S., Fabbri R., Monari J., Nicastro L., Orfei A., Sironi G., Strukov I.A., Tascone R., Сажин М.В., Carretti E., Cecchini S., Baralis M., Bernardi G., Boffetta P., Bonometto S., Chang C.F., Duell E.J., Fabianova E., Foretova L., Gervasi M., Hagen J., Hong Y., Huang R.Z., Janout V., Kiyohara C., Krisch A.D., LN, Land, Lazarus P., Lissowska J., Macculi C., Matzui, Muscat J., Orsini M., Peverini O.A., Pisani U., Popa L.O., Poppi S., Razin V.A., Rudnai P., Sbarra C., Seitz H., Shen H., Sow A., Szeszenia-dabrowska N., Thun M.J., Vineis P., Vinyajkin E.N., Wichmann H.E., Yang P., Zannoni M., Zienolddiny S., Заридзе Д.Г., AMS, Albanes D., Ardanaz E., Bates D., Benhamou S., Bickeböller H., Boeing H., Bouchard C., Brennan P., Brennan P., Bruscoli M., Bueno-de-mesquita H.B., C-C Y., Caporaso N., Caporaso N.E., Carretti E., Casarini L., Cecchini S., Chabrier A., Chen C.J., Christian D., Clavel-chapelon F., Coghi P., Colombo L., Constantinescu V., Das T.K., Dienemann H., Flanders A.E., Galanaud D., Gallagher C.J., Gan A.o., Gonzalez C., Goodman G.E., HOSGOOD H.D., Haller S., Hallmans G., Harris C., Hirvonen J., Jordan J., Kaski P., Kim J.H., Krogh V., Kumle M., LV, Lan b.Y., Larrañaga N., Le Marchand L., LeMarchand L., Lee R.S., Lerner M., Lubinski J., Martinez C., Matullo G., McKay J.D., McLaughlin J.B., Mechanic L., Monnier S., Mukherjee P.K., Mutz M., Naeim B.P., Natale V., Navarro C., Negri B., Nield J., Niogi S.N., Overvad K., Parizel P.M., Peeters P.H., Pezeshki B., Poloni M., Popanda O., Prommana P., Pálfi G., Quirós J.R., Ramponi M., Rey T., Riboli E., Rillig M.C., Rovida A., Sauter W., Shaw K., Smith M., Sundgren P.C., Suzuki T., Tajima K., Tjønneland A., Trichopoulou A., Trubicka J., Truong T.J., Tsiouris A.J., Tucci M., Tumino R., Uthaipibull C., Van Goethem J., Virone G., Vyvere T.V., W A.J., Whitlow C., Wienecke J.U., Wiesmann M., Wintermark M., Wong V.K., Wu J., Y A., Yamada K., de Bruxellas N.L., zhang r., Андрев А.С., Андреев А.С., Белякова Ю.Ю., Захарова Н.Е., Мэн К., РС, Радулов П.С., Терентьев А.О., Шварц А.М., Ярёменко И.А. Показать ещё Скрыть