Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Miguel A.and
Miguel A.and
IstinaResearcherID (IRID): 2274031

Образование

Результаты деятельности

Всего: 5 статей, 1 патент.

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 81, Scopus: 87

Просмотреть публикации »

Соавторы: Brad} R.a., Dubovsky I.a., Dvorak T.a., Hambsch S.a., Henden M.a., Kato T., Kiyota I.a., Miyashita T.a., Muyllaert R.a., Pickard A.a., Uemura H.a., and Hynek R.~., and Kudzej P.~., and Kuramoto F.~., and Miller E.~., and Ringwald E.~., and Tanabe F.J., and {Krajci} I.~., and {Staels} T.~., {Bolt} H.a., {Boyd} B.a., {Fujii} K.a., {Iino} S.a., {Imada} J.a., {Ishioka} D.a., {Itoh} H.a., {Masi} H.a., {Monard} G.a., {Morelle} M.a., {Nelson} A.a., {Nogami} R.a., {Noguchi} E.a., {Nose} R.a., {Nov{\'a}k} E.a., {Ogura} H.a., {Ohshima} B.a., {Ohtomo} K.a., {Richmond} C.a., {Ruiz} J.a., {Shears} T.a., {Simonsen} S.a., {Stockdale} T.a., {Takagi} N.a., Э, показать полностью {Gomez} P.a., Andrieu-Ponel V., France M., Goetz M., Habeck M., Hamilton E.P., Huang C., Huber I., Johnson R., Kasser J.H., Muñoz M., O'Shaughnessy J., Patrick L., Priya A., San A.B., Senkus E., Shahir A., Sotres J., Tuilier M.H., Арбузова Е.Е., Виневская А.В., Малдан Ф., Рубо О.П., Рундквист Д.В., Ткачев А.В., Трякин А.А., Черкасов С.


ИСТИНА ЦЭМИ РАН
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь