Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Benevides L.A.
Benevides L.A.
IstinaResearcherID (IRID): 27700872
–

Статьи в журналах

    • 2024 The flashbulb-like nature of memory for the first COVID-19 case and the impact of the emergency. A cross-national survey
    • Lanciano Tiziana, Alfeo Federica, Curci Antonietta, Marin Claudia, D’Uggento Angela Maria, Decarolis Diletta, Öner Sezin, Anthony Kristine, Barzykowski Krystian, Bascón Miguel, Benavides Alec, Cabildo Anne, de la Mata-Benítez Manuel Luis, Ergen İrem, Filip Katarzyna, Gofman Alena, Janssen Steve M.J., Kai-bin Zhao, Markostamou Ioanna, Matías-García Jose Antonio, Nourkova Veronika, Oleksiak Sebastian, Santamaría Andrés, Szpunar Karl, Taylor Andrea, Watson Lynn Ann, Zheng Jin
    • в журнале Memory, издательство Psychology Press (United Kingdom), с. 1-19 DOI
    • 2011 The 4th international comparison on EPR dosimetry with tooth enamel Part 1: Report on the results
    • Fattibene P.Wieser A, Adolfsson E., Benevides L.A., Brai M., Callens F., Chumak V., Ciesielski B., Della Monaca S., Emerich K., Gustafsson H., Hirai Y., Hoshi M., Israelsson A., Ivannikov A., Ivanov D., Kaminska J., Ke W., Lund E., Marrale M., Martens L., Романюха Алексей Алексеевич
    • в журнале Radiation Measurements, издательство Pergamon Press Ltd. (United Kingdom), том 46, № 9, с. 765-771 DOI

ИСТИНА ЦЭМИ РАН
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь