–
Статьи в сборниках
-
- 2012 Impact of local back biasing on performance in hybrid FDSOI/bulk high-k/metal gate low power (LP) technology
- Fenouillet-Beranger C., Perreau P., Benoist T., Richier C., Haendler S., Pradelle J., Bustos J., Brun P., Tosti L., Weber O., Andrieu F., Orlando B., Pellissier-Tanon D., Abbate F., Pvichard C., Beneyton R., Gregoire M., Ducote J., Gouraud P., Margain A., Borowiak C., Bianchini R., Planes N., Gourvest E., Bourdelle K.K., Nguyen B.Y., Poiroux T., Skotnicki T., Faynot O., Boeuf F.
- в сборнике 2012 13th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS), место издания IEEE DOI