Образование

Соавторы: Krotkov N., Чубарова Н.Е., Akimoto H., BAUER E., Bailey M.R., Balam D., Baransky A.R., Behera S.K., Beuden T., Bhartia P.K., Bryssinck E., Br¨uckner M., Buckley D.A., Carson P., Carvajal V.F., Cebral C., Chambers K., Chavez J.C., Cikota A., Cortes E., Cutri R.M., Da P.G., Dekelver P.J., Denneau L., Diepvens A., Dobre G., Drummond J.M., FA, Fairlamb J.R., Fasolini M., Fazekas J.B., Fernandez E., Ferri I., Fitzsimmons A., Fritzsche S., Fuls D.C., GONZALEZ D., Gibbs A.R., Graca L.M., Grau T., Grauer A.D., Green D.H., Groeller H., Haber M., Hills K., Hu M.L., Ikari Y., J V.J., JC, Jager M., Jeon S., Jewitt D., KUMAR P., Kadota K., Kasianchuk A., Kechin Y., Koch B.P., Konishi M., Kowalski R., Kwon Y., LI B., Larson S., Lejoly C., Leonard G.J., Lindner J., Logan J.A., Lowe T.C., Lu H., Lutkenhoner B., MACMILLAN, Magliano C., Magnier E.A., Mainzer A.K., Masiero J.R., Mastaler R.A., Mašek M., Meech K.J., Minguez P., Monteiro M., Mаксютов Ш.Ш., Navas G., Nedelcu A., Nielsen R., Object Wide-field Infrared Survey E.N., Oliveira C., Onken C., Opados C., Pasche W., Patra P.K., Pearce A., Pittichova J., Prosperi E., Prystavski T., Ramanjooloo Y., Rankin D.W., Ritz D., Robinson J., Rosenthal A., SACLEUX M., Scarmato T., Schultz A.J., Seaman R.L., Shelly F.C., Shurpakov S., Siverd R.J., Smith I.H., Sokoliuk O., Soulier J.F., Sánchez S.F., Takahashi T., Temprano J., Thirouin A., Tonry J., Townsend R.H., Ulyumdzhieva N.N., Vauquelin B., Wainscoat R., Wang S., Weiland H., Wells G., Wells J.A., Weryk R., Wierzchos K.W., Woodward C.E., Wright E.L., Xu Z.Z., Yamagata T., Yamaguchi Y., Yaxley G.M., Yoshimi M., Yoshimoto K., Yurova A.Y., Zahn R., Zhaori G., de Boer T., jan j., jin x.K., Балануца П.В., Борисенко С.В., Гао Х., Горбовской Е.С., Гресь О.А., Гусар Д.А., Деев С.М., Дуриш З., Зимнухов Д.С., Каменецкий В.С., Кисеева Е.С., Корнилов В.Г., Кузнецов А.С., Липунов В.М., Мартинек А., Мэн К., Незваль Е.И., Сон Ж.Г., Сотниченко В.Н., Тюрин Н., Фарзан Р.Х., Чжао Х., Юрова А.Ю., май д.а. Показать ещё Скрыть