Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Tovarnov D.A.
Tovarnov D.A.
IstinaResearcherID (IRID): 410571065
Статьи в журналах Статьи в сборниках
–

Статьи в журналах

    • 2024 Peculiarities of Deformation of Round Thin-Film Membranes and Experimental Determination of Their Effective Characteristics
    • Dedkova A.A., Glagolev P.Yu, Gusev E.E., Dyuzhev N.A., Kireev V.Yu, Lychev S.A., Tovarnov D.A.
    • в журнале Technical Physics, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 69, № 2, с. 201-212 DOI
    • 2020 Experimental Determination of Mechanical Properties of the Anode Cell of an X-Ray Lithograph
    • Djuzhev N.A., Gusev E.E., Dedkova A.A., Tovarnov D.A., Makhiboroda M.A.
    • в журнале Technical Physics, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 65, № 11, с. 1755-1759 DOI

Статьи в сборниках

    • 2021 Experimental Study Mechanical Stresses and Strength in Multilayer PECVD SiO2
    • Gusev E.E., Tovarnov D.A., Dedkova A.A., Onufrienko A.P., Djuzhev N.A.
    • в сборнике Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering, ElConRus 2021, серия IEEE, с. 2437-2441 DOI
    • 2020 Investigation of Mechanical Strength of Membrane Structure Consisting of Al/SiO2/Al
    • Gusev E.E., Tovarnov D.A., Dedkova A.A., Djuzhev N.A.
    • в сборнике IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering, EIConRus 2020, серия IEEE, с. 2299-2302 DOI

ИСТИНА ЦЭМИ РАН
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь