Образование

Соавторы: Atac H., Barion L., Battaglieri M., Bedlinskiy I., Benmokhtar F., Biselli A.S., Briscoe W.J., Bulumulla D., Carman D.S., Chetry T., Ciullo G., Cole P.L., D'Angelo A., Dashyan N., Defurne M., Deur A., Djalali C., Dupre R., Elouadrhiri L., Filippi A., Gavalian G., Gothe R.W., Griffioen K.A., Hakobyan H., Hattawy M., Hayward T.B., Holtrop M., Ilieva Y., Ireland D.G., Jo H.S., Joo K., Khanal A., Kim A., Kim W., Kripko A., Lanza L., Leali M., Lenisa P., Marchand D., Mascagna V., McKinnon B., Migliorati S., Mirazita M., Munoz C., Nadel-Turonski P., Neupane K., Niccolai S., Paolone M., Paremuzyan R., Poudel J., Price J.W., Prok Y., Ripani M., Sabatié F., Schmidt A., Shrestha U., Sokhan D., Sparveris N., Strakovsky I.I., Strauch S., Tyson R., Ungaro M., Venturelli L., Voskanyan H., Voutier E., Watts D.P., Zachariou N., Бояринов С.Ю., Буркерт В., Голубенко А.А., Исупов Е.Л., Мокеев В.И., Осипенко М.В., Широков Е.В., Bashkanov M., Benkel B., Biondo L., Carvajal J.C., Celentano A., Chatagnon P., Contalbrigo M., Costa G.D., De Vita R., Diehl S., Egiyan H., El A.A., El F.L., Fegan S.J., Ghandilyan Y., Gilfoyle G.P., Gotra Y., Heddle D., Hobart A., Keller D., Kubarovsky V., MacGregor I.J., Nicol M., Niculescu G., Pappalardo L.L., Pasyuk E., Paul S.J., Phelps W., Pilleux N., Pogorelko O., Reed T., Ritman J., Simmerling P., Stepanyan S., Vallarino S., Wishart R., Wood M., Минеева Т.Н., Чесноков В.В., Amaryan M.J., Armstrong W.R., Baashen L., Baltzell N., Bianconi A., Bondi M., Brooks W.K., Bueltmann S., Capobianco R., Costantino G., Glazier D.I., Guidal M., Khachatryan M., Lagerquist V., Lee S., Livingston K., Marsicano L., Montgomery R.A., Pandey S., Pokhrel M., Rossi P., Salgado C., Schadmand S., Sharabian Y., Tan J.A., Zhao Z., Avakian H., Ayerbe G.C., Bates D., Bianconi A., Clash G., Costantini G., Ehrhart M., Gayoso C.A., Girod F.X., Guida M., Hauenstein F., Hyde C.E., Johnston R., Kabir M., Klimenko V.A., McLauchlin C., Nguyen D., Ouillon M., Pandey P., Raue B.A., Spreafico M., Trotta N., Vossen A., Yale B., Zurek M., Achenbach P., Akbar Z., Alaoui A.E., Angelini G., Arratia M., Avagyan H., Biondi M., Bondì M., Booth W.A., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Bossù F., Brinkman K.T., Brinkmann K.T., Brinkmann K.T., Brinkmann K.T., Byler N., CLARK L.V., Caudron M., Crede V., Dilks C., Eugenio P., Fassi L.E., Fersch R., Forrest M., Guo X.L., Hafidi K., Hobara Y., Hollis G., J D.M., Jenkins D.L., Joosten S., Khachatryan G., Khandaker M., Klein F., Kotzinian A., Kuhn S., Laget J.M., Li X, Li X, Li X, Meziani Z.E., Molina E., Newton J., O’Connell T.R., Park K., Peck A., Po\ifmmode \checkc\else č\fiani\ifmmode \acutec\else ć.D., ROWLEY J.T., Reid T.C., Richards J., Richards J.L., Riehl S., Rizzo A., Rizzo F., Rosner G., Schumacher R.A., Segarra E.P., Soto O., Tian Y., Turisini M., Vita R.D., Wei K., Wei K., Williams R., Zhang J., Zhang J., Zhang J., Ziegler V., Кун К.Е. Показать ещё Скрыть