Образование

Соавторы: Bieryla A., Caldwell D.A., Ciardi D., Gonzalez E., Jenkins J.M., Kane S.R., Seager S., Сафонов Б.С., Barclay T., Boyd P., Brett K., Chontos A., Collins A.G., David B., Dressing C.D., Erhan R.V., Essack Z., Giacalone S., Hale R., Heward A., Howell S., Isopi G., Mandel A.M., Neal C.A., Pepe G., Petigura E.A., Plavchan P.P., Powell B.P., Ricker G.R., Schwarz R., Stassun K., Vanderburg A., Vanderspek R., Winn J.N., Белинский А.А., Страхов И.А., Adams F., Alfred M., Armstrong J., Arney G.N., Barkaoui K., Barrado D., Barry R.K., Batalha N.M., Benkhaldoun Z., Berger T., Bonney P., Borkovits T., Bradley L., Brill W., Britt D., Buchhave L.A., Burke C.J., Burnet S., Cacciapuoti L., Cadieux C., Carey B.J., Casey B., Charbonneau D., Charles A., Chris , Christiansen E.L., Claytor Z.R., Clement M.S., Cloutier R., Collins K.A., Collins K., Colón K.D., Colón K.D., Cont , Conti D.M., Crossfield Ian J.M., Crossfield Ian J.M., Dai F., Dalba P.A., Daylan T., Deeg H.J., Della-Rose D.J., Di Sora M., Domagal-Goldman S., Elisabeth M., Ellingsen T.B., Eric A., Esparza-Borges E., Evans P., Eylen V.V., Fauchez T., Friedman A.H., Fulton B., Furlan E., Gagliano R., Gan T., Gandolfi D., Garvin J., Ghachoui M., Gilbert E.A., Gisbert E., Gnilka C.L., Grzegorz S., Guillermo C., Günther M., Harada C.K., Hedges C., Hełminiak K.G., Hill M.L., Hoffman K., Holcomb R., Horch E., Hord B.J., Huber D., Isaacson H., Ito A., Jacobs T.L., Janssen , Jayaraman R., Jensen Eric L.N., Jesse G., Jiancun R., Jimenez M., Kagetani T., Kartvedt N.M., Kato T., Kawauchi K., Kielkopf J.F., Kohler E., Kopparapu R., Korth J., Kristiansen M.H., LaCourse D.M., Lam K., Larivière M., Larsen J.A., Latham D.W., Lester K.V., Lillo-Box J., Lillo-Box J., Lind L.K., Livingston J.H., Lopez E., Louie D.R., Lubin J., Luker L., Lund M., Luque R., Mallia F., Mann C.R., Martín E.L., Mason M.D., Mason R.M., Masseron T., Mayo A.W., Mašek M., Michael G., Mireles I., Montet B.T., Morello G., Močnik T., Mullally S.E., Murphy Joseph M.A., Murtas F., Nelles G., Olmschenk G., Omohundro M., Orell-Miquel J., Orio M., Ostberg C., O’Dwyer , PAUL C., Pamela A., Paudel R.R., Polanski A.S., Polonski A.L., Pozuelos F.J., Quinn M., Quinn S.N., RODRIGUEZ M.J., Rappaport S.A., Renz T.E., Rice M., Richardson T., Robertson P., Rosner H., Rowe J.F., Roy A., Rubenzahl R.A., Saxena P., Scarsdale N., Schlieder J.E., Schmitt A.R., Schnaible C., Schnittman J.D., Schwengeler H.M., Scott D.A., Sefako R., Sefako R., Shupe M.D., Siegert C., Silverstein M.L., Smale A.P., THOMAS B.A., Tan T., Tan T., Terentev I.A., Turtelboom E.V., Twicken J.D., Tyler D.B., Vermilion D., Villaseñor J., WHITE D., Weis L., Wilson R., Wittrock J.M., Yahalomi D.A., Yan C., Yujin W., Zandt J.V., Zasche P., bob s., Анна Г.Т., Жу , Котов В.Б., Кригер Е.Э., Лин Г.И., Матюлько И.С., Павел А.Б., Роде М., Токовинин А.А., Франко М.А., Фурман Е.С., Хану М.О., Шнидер Т.П., ред ). Показать ещё Скрыть