Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Shiryaeva S.O.
Shiryaeva S.O.
IstinaResearcherID (IRID): 601957427
–

Статьи в журналах

    • 2023 Effect of Surface Tension Relaxation on the Stability of a Charged Jet
    • Grigor’ev A.I., Kolbneva N.Yu, Shiryaeva S.O.
    • в журнале Fluid Dynamics, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 58, № 9, с. 1740-1750 DOI
    • 2023 Effect of Surface Tension Relaxation on the Stability of a Charged Jet
    • Grigor’ev A.I., Kolbneva N.Yu, Shiryaeva S.O.
    • в журнале Fluid Dynamics, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 58, № 9, с. 1-11 DOI
    • 2023 On Some Regularities in the Implementation of the Electrostatic Instability of a Charged Liquid Surface in a Pool of Finite Dimensions
    • Grigoryev A.I., Shiryaeva S.O., Koromyslov V.A.
    • в журнале Fluid Dynamics, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 58, № 7, с. 1328-1340 DOI
    • 2023 Acoustic Radiation of Charged Droplets Oscillating in the Superposition of Gravitational and Electrostatic Fields
    • Grigor’ev A.I., Kolbneva N.Yu, Shiryaeva S.O.
    • в журнале Colloid Journal, издательство Pleiades Publishing, Ltd (Road Town, United Kingdom), том 85, № 1, с. 1-15 DOI

ИСТИНА ЦЭМИ РАН
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь