–
Статьи в журналах
-
- 2010 Soft X-ray imaging of thick carbon-based materials using the normal incidence multilayer optics
- Artyukov I.A., Feschenko R.M., Vinogradov A.V., Bugayev Ye A., Devizenko O.Y., Kondratenko V.V., Kasyanov Yu S., Hatano T., Yamamoto M., Saveliev S.V.
- в журнале Micron, издательство Pergamon Press Ltd. (United Kingdom), том 41, № 7, с. 722-728 DOI