Образование

Соавторы: Juryšek J., BAUER E., Bailey M.R., Balam D., Banerjee B., Baransky A.R., Beuden T., Branchesi M., Bryssinck E., Br¨uckner M., Buckley D.A., Carson P., Carvajal V.F., Cebral C., Chambers K., Chavez J.C., Chochol D., Cikota A., Cortes E., Cunniffe R., Cutri R.M., Da P.G., Dekelver P.J., Denneau L., Diepvens A., Dobre G., Drummond J.M., Ebr J., FA, Fairlamb J.R., Fasolini M., Fazekas J.B., Fernandez E., Ferri I., Fitzsimmons A., Fritzsche S., Fuls D.C., GONZALEZ D., Gibbs A.R., Graca L.M., Grau T., Grauer A.D., Green D.H., Groeller H., Grygar J., Haber M., Herman J., Hills K., Hu M.L., Ikari Y., Ivanov E., JC, Jager M., Janeček P., Jelinek M., Jeon S., Jewitt D., KUMAR P., Kadota K., Karpov S., Kasianchuk A., Katkova E., Kechin Y., Koch B.P., Konishi M., Kowalski R., Kwon Y., LI B., Larson S., Lejoly C., Leonard G.J., Lindner J., Logan J.A., Lowe T.C., Lu H., Lutkenhoner B., Lyapsina N.V., MACMILLAN, Magliano C., Magnier E.A., Mainzer A.K., Masiero J.R., Mastaler R.A., Meech K.J., Minguez P., Monteiro M., Navas G., Nedelcu A., Nielsen R., Object Wide-field Infrared Survey E.N., Oganesyan G., Oliveira C., Onken C., Opados C., Pasche W., Pearce A., Pittichova J., Polášek C., Prosperi E., Prouza M., Prystavski T., Ramanjooloo Y., Rankin D.W., Rene H., Ritz D., Robinson J., Ronchini S., SACLEUX M., Salafia O.S., Scarmato T., Schultz A.J., Seaman R.L., Shelly F.C., Shurpakov S., Siverd R.J., Smith I.H., Sokoliuk O., Soulier J.F., Sánchez S.F., Takahashi T., Temprano J., Thirouin A., Tonry J., Townsend R.H., Vauquelin B., Wainscoat R., Wang S., Weiland H., Wells G., Wells J.A., Weryk R., Wierzchos K.W., Woodward C.E., Wright E.L., Xu Z.Z., Yamaguchi Y., Yoshimi M., Yoshimoto K., Zahn R., Zhaori G., de Boer T., jan j., jin x.K., Štrobl J., Балануца П.В., Бескин Г.М., Бирюков А.В., Борисенко С.В., Волков И.М., Гао Х., Горбовской Е.С., Гресь О.А., Гусар Д.А., Деев С.М., Дуриш З., Зимнухов Д.С., Калинин А.Ю., Корнилов В.Г., Кузнецов А.С., Липунов В.М., Мартинек А., Мэн К., Перков А.В., Сасюк В.В., Сон Ж.Г., Сотниченко В.Н., Тюрин Н., Фарзан Р.Х., Чжао Х., май д.а. Показать ещё Скрыть