Образование

Соавторы: Шмитт-Копплин Ф., BAUER E., Bailey M.R., Balam D., Baransky A.R., Beuden T., Bryssinck E., Br¨uckner M., Buckley D.A., Carson P., Carvajal V.F., Cebral C., Chambers K., Chavez J.C., Cikota A., Cortes E., Cutri R.M., Da P.G., Dekelver P.J., Denneau L., Diepvens A., Dobre G., Drummond J.M., FA, Fairlamb J.R., Fasolini M., Fazekas J.B., Fernandez E., Ferri I., Fitzsimmons A., Flerus R., Fritzsche S., Fuls D.C., GONZALEZ D., Gebefuegi I., Gibbs A.R., Graca L.M., Grau T., Grauer A.D., Green D.H., Groeller H., Haber M., Harir M., Herman J., Hertkorn N., Hertkorn N., Hills K., Hu M.L., Ikari Y., JC, Jager M., Jeon S., Jewitt D., KATTNER G., KUMAR P., Kadota K., Kanawati B., Kasianchuk A., Kechin Y., Konishi M., Kowalski R., Kwon Y., LI B., Larson S., Lejoly C., Leonard G.J., Liger-Belair G., Lindner J., Logan J.A., Lowe T.C., Lu H., Lucio M.J., Lutkenhoner B., MACMILLAN, Magliano C., Magnier E.A., Mainzer A.K., Masiero J.R., Mastaler R.A., Mašek M., Meech K.J., Michalke B., Minguez P., Monteiro M., Navas G., Nedelcu A., Nielsen R., Object Wide-field Infrared Survey E.N., Oliveira C., Onken C., Opados C., Pasche W., Pearce A., Pittichova J., Prosperi E., Prystavski T., Ramanjooloo Y., Rankin D.W., Ritz D., Robinson J., SACLEUX M., Scarmato T., Schultz A.J., Seaman R.L., Shelly F.C., Shurpakov S., Siverd R.J., Smith I.H., Sokoliuk O., Soulier J.F., Sánchez S.F., Takahashi T., Temprano J., Thirouin A., Tonry J., Townsend R.H., Tziotis D., Vauquelin B., Wainscoat R., Wang S., Weiland H., Wells G., Wells J.A., Weryk R., Wierzchos K.W., Woodward C.E., Wright E.L., Xu Z.Z., Yamaguchi Y., Yoshimi M., Yoshimoto K., Zahn R., Zhaori G., de Boer T., jan j., jin x.K., Балануца П.В., Борисенко С.В., Гао Х., Горбовской Е.С., Гресь О.А., Гусар Д.А., Деев С.М., Дуриш З., Зимнухов Д.С., Корнилов В.Г., Кузнецов А.С., Липунов В.М., Мартинек А., Мэн К., Сон Ж.Г., Сотниченко В.Н., Тюрин Н., Фарзан Р.Х., Харир М., Чжао Х., май д.а. Показать ещё Скрыть