Образование

Соавторы: Aerts R., Alatalo J., Anderson J.M., Avolio M.L., Baer S.G., Baldwin A.H., Bates J., Beierkuhnlein C., Belote R.T., Blair J.E., Bloor J.M., Bohlen P.J., Bork E.W., Boughton E.H., Bowman W.D., Britton A.J., Cahill Jr J.F., Chaneton E., Chang C.F., Chen J.P., Chiariello N.R., Collin S., Cornelissen J.H., Du G., Eskelinen A., Firn J., Foster B., Gough L., Grman E., Hallett L.M., Han X.L., Harmens H., Houseman G.R., Hovenden M.J., Huang T.H., Isbell F., Jagerbrand A., Jennings A., Jentsch A., Johnson D.S., Kern C., Klanderud K., Knapp A.K., Koerner S.E., Komatsu K., Kreyling J., Lemoine N.P., Li W., Luo Y., McCulley R.L., McLaren J.R., Megonigal J.P., Morgan J.E., Prevéy J., Price J.N., Reich P.B., Robinson C.H., Ross K.J., Russell F.L., Sala O.E., Seabloom E.W., Shi E., Smith M.D., Soudzilovskaia N.A., Souza L., Suding K., Suttle K.B., Svejcar T., Tilman D., Tognetti P., Turkington R., White S., Wilcox K.R., Xu Z., Yahdjian L., Zhu H., Лу Я., Онипченко В.Г., Хао Ю. Показать ещё Скрыть