|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Минимизация площади соединений с учетом эффекта электромиграции и падения напряжения на проводникахстатья
- Авторы: Шеблаев М.В., Плеханов А.С., Ерохин Р.В., Яхонтов А.Н.
- Журнал: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС
- Номер: 1
- Год издания: 2010
- Издательство: Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 196
- Последняя страница: 199
- Добавил в систему: Шеблаев Михаил Владимирович