|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭСжурнал
Индексирование:
Список ВАК (2 февраля 2016 г.-),
Список РИНЦ (1 января 2008 г.-)
Период активности журнала:
1 января 2005 г.-
- Другие названия журнала: Сборник трудов Всероссийских научно-технических конференций "Проблемы разработки перспективных микро и наноэлектронных систем (МЭС)"
- Сайт журнала: http://journal.mes-conference.ru/
- Издательство: Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН
- Местоположение издательства: Москва
-
Аннотация:
Сборник трудов Всероссийской научно-технической конференции МЭС «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем» содержит все представляемые на ней доклады, а также дает общее представление о конференции.
Материалы сборника отражают современное состояние российской микро- и наноэлектроники, методов и средств разработки микро- и наноэлектронных схем и систем и являются важным источником информации по перспективным направлениям исследований и инвестиций в сфере микро- и наноэлектроники.
Представленные работы выполнены научными сотрудниками и аспирантами РАН, специалистами работающих в России научно-производственных организаций, преподавателями, научными сотрудниками, аспирантами и студентами высших учебных заведений, а также сотрудниками ряда зарубежных компаний, лидирующих в области проектирования микро- и наноэлектронных изделий.
Сборник предназначен для научных работников, специалистов, аспирантов и студентов, занимающихся проблемами разработки, анализа, тестирования сложных микро- и наноэлектронных схем и систем и соответствующих программных средств.
- Добавил в систему: Мелик-Адамян Арег Фрикович
- ISSN: 2078-7707 (Print)
Статьи, опубликованные в журнале
-
- 2022 Exact Synthesis of Low Precision Multipliers for Intel FPGAs
- Shupletsov M.S., Zhukov V.V., Gribok S.V., Ganusov I., Mestetskiy M.A., Lopunov M.A., Kuprash E.D.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), с. 212-218 DOI
-
- 2022 Атомно-силовая микроскопия аморфных электротехнических сплавов Fe(Ni, Cu)(SiB)
- Каминская Т.П., Шипко М.Н., Степович М.А., Попов В.В., Тихонов А.И.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), № 3, с. 206-211 DOI
-
- 2022 Атомно-силовая микроскопия аморфных электротехнических сплавов Fe(Ni, Cu)(SiB)
- Каминская Т.П., Шипко М.Н., Степович М.А., Попов В.В., Тихонов А.И.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), с. 206-211 DOI
-
- 2022 Исследование электрофизических свойств излучающих GaAs-, GaP- и Al0,3Ga0,7As – p–n-структур с помощью моделирования
- Лагунович Н.Л.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), № 1, с. 14-20 DOI
-
- 2021 SPICE-модель для учета влияния эффекта горячих носителей в биполярных транзисторах
- Kozhukhov M.V., Mukhametdinova A.R.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), том 4, с. 81-85 DOI
-
- 2021 Исследование электрофизических свойств p–n+-перехода с помощью моделирования в декартовой и цилиндрической системах координат
- Лагунович Н.Л.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), № 1, с. 33-38 DOI
-
- 2021 Разработка системы на кристалле для абонентского спутникового терминала системы «Гонец-Д1М»
- Архипкин В.Я., Дябин М.И., Ерохин В.В., Шеблаев М.В.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), № 4, с. 93-98 DOI
-
- 2020 Possibilities of metrological systems of atomic force microscopy for research, development and control of parameters of micro and nanoelectronic products
- Bykov V.A., Bykov A.V., Bobrov Y.A., Kotov V.V., Leesment S.I., Polyakov V.V.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), с. 187-192 DOI
-
- 2020 Моделирование высоковольтного кремниевого диода, построение зависимостей его плотности тока от температуры
- Лагунович Н.Л.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), № 2, с. 22-28 DOI
-
- 2020 О сложности инверсных графов, реализующих булевы функции от малого числа переменных
- Lozhkin S.A., Zizov V.S., Shupletsov M.S., Zhukov V.V., Khzmalian D.E., Belyankov O.O.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), том 4, с. 95-102 DOI
-
-
- 2019 Algorithm of Structural Optimization for Digital CMOS Circuits
- Gavrilov S.V., Ryzhova D.I., Vasilyev N.O., Zhukova T.D.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), № 1, с. 42-46 DOI
-
- 2019 Digital Circuits Resynthesis Approach for FPGAs Based on Logic Cell with Built-In Flip-Flop
- Tiunov I.V., Lipatov I.A., Zheleznikov D.A.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), том 3, с. 33-36
-
-
- 2018 Алгоритм декомпозиции на основе метода имитации отжига для реконфигурируемых систем на кристалле
- Гаврилов С.В., Железников Д.А., Чочаев Р.Ж., Хватов В.М.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), с. 199-204
-
- 2018 Алгоритм межвентильного ресинтеза на транзисторном уровне для автоматизированного проектирования микроэлектронных схем
- Рыжова Д.И., Васильев Н.О., Жукова Т.Д.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), № 1, с. 193-198
-
- 2018 Алгоритмы решения задачи функциональной коррекции схем из функциональных элементов
- Автайкина М.А., Шуплецов М.С.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), том 1, с. 23-29 DOI
-
- 2018 Алгоритмы синтеза схем-заплаток для решения ресурсо-ориентированной функциональной коррекции схем из функциональных элементов
- Жуков В.В., Высоцкий Л.И., Шуплецов М.С.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), том 1, с. 30-37 DOI
-
- 2018 Генератор тестовых программ для архитектуры RISC-V на основе инструмента MicroTESK
- Камкин А.С., Проценко А.С., Смолов С.А., Татарников А.Д.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), том 2, с. 2-8
-
- 2018 Исследование механизма разрыва и перетрассировки на этапе топологического синтеза в базисе реконфигурируемых систем на кристалле
- Железников Д.А., Заплетина М.А., Хватов В.М.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), с. 188-192
-
- 2018 Клеточно-автоматный вычислительный параллелизм элементарных матричных операций
- Матюшкин И.В., Заплетина М.А.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), № 3, с. 132-137 DOI
-
- 2018 МЕТОДЫ ФОРМИРОВАНИЯ И ВЕРИФИКАЦИИ БИБЛИОТЕК СТАНДАРТНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ В СОСТАВЕ МАРШРУТА ПРОЕКТИРОВАНИЯ ИС НА БАЗЕ ПЛИС ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА
- Хватов В.М., Гарбулина Т.В., Лялинская О.В.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), с. 57-62
-
- 2018 ПРОБЛЕМЫ ПРАВОВОГО РЕГУЛИРОВАНИЯ ДЕЯТЕЛЬНОСТИ УГОЛОВНО-ИСПОЛНИТЕЛЬНОЙ СИСТЕМЫ В СФЕРЕ ПСИХОЛОГИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ОСУЖДЕННЫХ К НАКАЗАНИЯМ БЕЗ ИЗОЛЯЦИИ ОТ ОБЩЕСТВА
- Ковалев О Г Семенова Н.В
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), с. 113-121
-
- 2018 Разработка методов архитектурно-ориентированного ресинтеза в маршруте автоматизированного проектирования плис
- Тиунов И.В., Липатов И.А., Железников Д.А.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), том 1, с. 69-74 DOI
-
- 2018 Схема функционального контроля для комбинационных схем на основе R-кода
- Гуров С.И., Тельпухов Д.В., Жукова Т.Д., Дементьева А.И.
- в журнале Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС, издательство Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН (Москва), том 1, с. 98-104 DOI