Атомно-силовая микроскопия аморфных электротехнических сплавов Fe(Ni, Cu)(SiB)

Каминская, Т.П.; Шипко, М.Н.; Степович, М.А.; Попов, В.В.; Тихонов, А.И.

Авторы: Каминская Т.П., Шипко М.Н., Степович М.А., Попов В.В., Тихонов А.И.
Журнал: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС
Номер: 3
Год издания: 2022
Издательство: Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН
Местоположение издательства: Москва
Первая страница: 206
Последняя страница: 211
DOI: 10.31114/2078770720223206211
Аннотация: Методами атомно-силовой микроскопии изучена поверхность образцов аморфной электротехнической стали (фольги) Fe(Ni, Cu)(SiB) толщиной около 100 мкм, шириной 10 мм, длиной 50 мм, которая была получена методом сверхбыстрого охлаждения при рас-пылении расплава на вращающемся барабане. На контактной поверхности фольги обнаружены характерные структурные элементы, наличие которых в различных местах поверхности может существенно влиять на электротехнические свойства материала.
Добавил в систему: Каминская Татьяна Петровна

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИСТИНА ЦЭМИ РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

ИСТИНА ЦЭМИ РАН

Атомно-силовая микроскопия аморфных электротехнических сплавов Fe(Ni, Cu)(SiB)статья

Прикрепленные файлы