Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Задача вариации длин транзисторов в стандартной ячейке при многокритериальной оптимизации нанометровых СБИС
статья
Авторы:
Мелик-Адамян А.Ф.
,
Рыжов А.П.
Журнал:
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС
Год издания:
2009
Издательство:
Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН
Местоположение издательства:
Москва
Первая страница:
102
Последняя страница:
109
Добавил в систему:
Мелик-Адамян Арег Фрикович