–
Статьи в журналах
-
- 2016 Исследование корреляционных свойств структуры поверхности пленок nc-Si/a-Si:H с различной долей кристаллической фазы
- Алпатов А.В., Вихров С.П., Казанский А.Г., Лясковский В.Л., Рыбин Н.Б., Рыбина Н.В., Форш П.А.
- в журнале Физика и техника полупроводников, издательство Наука (СПб.), том 50, № 5, с. 600-606
-
- 2012 Phase transitions in thin Ge2Sb2Te5 chalcogenide films according to Raman spectroscopy data
- Avachev A.P., Vikhrov S.P., Vishnyakov N.V., Kozyukhin S.A., Mitrofanov K.V., Terukov E.I.
- в журнале Semiconductors, издательство Springer (New York), том 46, № 5, с. 591-594 DOI