Образование

Соавторы: Cornelissen J.H., Crane J.D., Kattge J., Laughlin D.C., Онипченко В.Г., Anand M., Atkin O.K., Bahn M., Banerjee A., Bruelheide H., Butler E., Datta A., Fazayeli F., Flores-Moreno H., Hattingh W.N., Niinemets Ü., Penuelas J., Reich P.B., Soudzilovskaia N.A., Wythers K., Крамар К.Н., Amiaud B., Aubin I., Bergmann J., Bodegom V., Bonomi C., Burrascano S., Butterfield B., Byun C., Catford J.A., Cerabolini B.E., Chen M., Chen M., Dalrymple R.L., Freschet G.T., Gonzalez-Melo A., Gonzalez-Melo A., Guerrero‐Ramírez N.R., Hammer C., Iannetta P., Isaac M.E., Iversen C.M., Janssen, Janssen S., Jiménez-Alfaro B., Klimesova J., Kraft N.J., Kraft N.J., Kramer K., Kuyper T.W., König C., Ladouceur E., Lamb E.G., Louault F., Manning P., McCormack M.L., Meier I., Milla R., Mommer L., Mondoni A., Pausas J.G., Poorter H., Poschlod P., Rillig M.C., Roumet C., Sack L., Semchenko M., Shipley B., Smith S.W., Soudzilovskaia N.A., Sweeney C.J., Tedersoo L., Tudela-Isanta M., Valladares F., Valverde-Barrantes O.J., Weigelt A., Weigelt P., Wright J.P., York L.M., de Vries F.T., van Ruijven J., van der Plas F., Öllerer K., Л Ф. Показать ещё Скрыть