Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
MariaT
Т Мария В. MariaT
IstinaResearcherID (IRID): 51118203
Статьи в журналах Доклады на научных конференциях
–

Статьи в журналах

    • 2019 Characterization of high spatial resolution lithium fluoride X-ray detectors
    • Mabey P., Albertazzi B., Michel Th, Rigon G., Makarov S., Ozaki N., Matsuoka T., Pikuz S., Pikuz T., Koenig M.
    • в журнале Review of Scientific Instruments, издательство AIP Publishing (United States), том 90, № 6, с. 063702
    • 2018 Advanced high resolution x-ray diagnostic for HEDP experiments
    • Faenov A.Y., Pikuz T.A., Mabey P., Albertazzi B., Michel Th, Rigon G., Pikuz S.A., Buzmakov A., Makarov S., Ozaki N., Matsuoka T., Katagiri K., Miyanishi K., Takahashi K., Tanaka K.A., Inubushi Y., Togashi T., Yabuuchi T., Yabashi M., Casner A., Kodama R., Koenig M.
    • в журнале Scientific reports, издательство Nature Publishing Group (United Kingdom), том 8, № 1

Доклады на научных конференциях

    • 2020 Characterization of high spatial resolution lithium fluoride x-ray detectors (Стендовый)
    • Авторы: Makarov S.S., Pikuz T.A., Pikuz S.A., Mabey P., Albertazzi B., Michel Th, Rigon G., Ozaki N., Matsuoka T., Koenig M.
    • XXXV International Conference on Equations of State for Matter (ELBRUS 2020), Эльбрус, Кабардино-Балкария, Руанда, 1-6 марта 2020

ИСТИНА ЦЭМИ РАН
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь