2010 IEEE International SOI Conference (SOI)сборник

Статьи, опубликованные в сборнике

---

• • 2010 Reliability study in capacitor less 1T-RAM cells on SOI
  • Aoulaiche M., Collaert N., Simoen E., Mercha A., De Wachter B., Bourdelle K.K., Nguyen B.Y., Boedt F., Delprat D., Jurczak M., Altimime L.
  • в сборнике 2010 IEEE International SOI Conference (SOI), место издания IEEE DOI